一种LED寿命特征参量自动采集系统
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摘要

本实用新型公开了一种LED寿命特征参量自动采集系统,包括LED寿命试验模块,包括用于放置待测LED的圆盘式测试台架,所述测试台架上设置有机械臂,所述机械臂上设置有检测模块,所述机械臂上还设置有驱动机械臂运动的执行机构;所述执行机构包括驱动机械臂旋转的旋转执行机构、驱动机械臂沿圆盘式测试台架径向运动的径向伸缩执行机构和驱动机械臂沿圆盘式测试台架轴向运动的轴向伸缩执行机构,本机构通过径向伸缩执行机构和轴向伸缩执行机构,使得本试验系统可以通过合理的拓扑扩展,实现扩大试验样本空间的目的,使寿命评估结果更加有效,同时本装置使用照度计实现照度的测量,而照度可与光通量通过函数关系转换,从而使得光通量的获取更简便准确。

基本信息
专利标题 :
一种LED寿命特征参量自动采集系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020222218.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-28
授权号 :
CN211856792U
授权日 :
2020-11-03
发明人 :
石颉申海锋孔维相袁晨翔
申请人 :
苏州科技大学
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区科锐路1号
代理机构 :
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
宫建华
优先权 :
CN202020222218.2
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01M11/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-11-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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