一种测试电化学原位xrd的模具
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摘要

本实用新型公开了一种测试电化学原位xrd的模具,包括上模和下模,所述上模下端面的边侧设置有凹陷部,所述上模的边侧开设有缺口一,所述上模的表面开设有连接孔一,所述上模下端面的中间位置开设有腔体一,所述下模上端面的中间开设有腔体二,所述下模的上端面开设有凹槽,所述腔体二的内部开设有圆孔,所述下模上端面的边侧开设有连接孔二。该测试电化学原位xrd的模具,通过设置的缺口减少上模整体所使用的材料,且减轻了上模的重量,节约模具的生产成本,通过设置的缺口二减少下模整体所使用的材料,且减轻了上模的重量,节约模具的生产成本,且整体的结构非常简单,便于进行制作,大大的降低了生产过程中模具的使用成本,便于使用。

基本信息
专利标题 :
一种测试电化学原位xrd的模具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020236684.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-29
授权号 :
CN211905161U
授权日 :
2020-11-10
发明人 :
朱华陈节银
申请人 :
深圳市冬夏时代科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区龙华街道富康社区东环二路57号杰美康创意园B栋157
代理机构 :
深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
缪太清
优先权 :
CN202020236684.6
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  G01N23/207  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2020-11-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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