膏体外观缺陷检测设备
授权
摘要

本实用新型提供了一种膏体外观缺陷检测设备,属于产品检测技术领域,该设备包括:传送装置,所述传送装置用户用于在指定方向上运送膏体;第一触发传感器,所述第一触发传感器设置在所述传送装置的第一位置,用于在第一位置检测所述膏体是否到达;第一摄像机、第二摄像机和第五摄像机;第二触发传感器;第三摄像机和第四摄像机,所述第三摄像机和所述第四摄像机用于在第二位置对所述膏体在水平方向上进行拍摄;缺陷检测处理器,所述缺陷检测处理器通过所述第一摄像机、所述第二摄像机、所述第三摄像机、所述第四摄像机及所述第五摄像机拍摄的图像判断所述膏体是否存在外观缺陷。通过本实用新型的处理方案,能够自动检测膏体外观是否存在缺陷。

基本信息
专利标题 :
膏体外观缺陷检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020333588.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-17
授权号 :
CN212180649U
授权日 :
2020-12-18
发明人 :
田光亚
申请人 :
中科创达软件股份有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区清华东路9号创达大厦1层101-105室(东升地区)
代理机构 :
北京竹辰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈龙
优先权 :
CN202020333588.3
主分类号 :
G01N21/892
IPC分类号 :
G01N21/892  G01N21/894  G01N21/89  G01N21/88  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中,例如,纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2020-12-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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