一种通用测试夹具
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摘要
本实用新型公开了电子器件测试夹具领域的一种通用测试夹具，包括上下平行布置且固连的基板以及底板，所述基板上表面刻蚀有连接导带而下表面刻蚀有引脚焊盘，连接导带与引脚焊盘之间通过过孔连接，所述基板上安装有DIP锁紧座且DIP锁紧座的引脚穿过所述过孔与引脚焊盘焊接固定，所述连接导带上平行布置焊接有至少一个测试接口。本实用新型操作方便灵活，工作可靠，提高了产品质量和生产效率。
基本信息
专利标题 ：
一种通用测试夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020343982.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-18
授权号 ：
CN212083492U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
安文杰
申请人 ：
中国电子科技集团公司第四十三研究所
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区合欢路19号
代理机构 ：
合肥天明专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
金凯
优先权 ：
CN202020343982.5
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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