测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器
授权
摘要
本实用新型涉及一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，主要包括测量室、反符合测量室和之间的挡板；挡板能阻挡α射线和β射线而使宇宙射线和环境γ射线通过。本实用新型的有益效果如下：能降低宇宙射线和环境γ射线影响，从而降低探测器本底和最低可探测下限，提高辐射测量的性能。探测器的坪斜在3％/100V以下，坪长在200V以上，紧贴入射窗表面处测量β放射源90Sr‑90Y效率＞60％，α放射源239Pu效率＞30％，β的最低可探测下限<0.12Bq/cm2，α的最低可探测下限<0.02Bq/cm2，计数寿命不小于1.0E12，搁置寿命在1年以上。
基本信息
专利标题 ：
测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020362019.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-20
授权号 ：
CN211955843U
授权日 ：
2020-11-17
发明人 ：
任熠郭喜荣乔莉杜向阳郭强张佳盛佳刘晋瑾苗宇星侯磊
申请人 ：
山西中辐核仪器有限责任公司
申请人地址 ：
山西省太原市山西综改示范区太原学府园区长治路420号
代理机构 ：
北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
任晓航
优先权 ：
CN202020362019.1
主分类号 ：
G01T1/169
IPC分类号 ：
G01T1/169 G01T1/185
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/169
污染的表面面积的探查和定位
法律状态
2020-11-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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