一种单光子符合对数测量方法及装置
授权
摘要

本申请实施例提供了一种单光子符合对数测量方法及装置,本申请提供的方法包括,在第一测量周期内,通过多个计数通道获取单光子数目;其中,第一测量周期为预设次数的测量周期中的任意一个测量周期;将通过不同计数通道对应的单光子数目进行时间相关性分析,获取符合对数以及延时时间的对应关系,其中,延时时间为同一顺序下,单光子达到不同计数通道的时间差,符合对数为同一延时时间下,同一顺序的单光子对数;将任一延时时间下的符合对数以及第零累计符合对数进行累加,获取任一延时时间对应的累计符合对数。本申请提供的方法能够准确的单光子相关数据,从而提高符合对数测量结果的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种单光子符合对数测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113029367A
申请号 :
CN202110318747.1
公开(公告)日 :
2021-06-25
申请日 :
2021-03-25
授权号 :
CN113029367B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
谢臻达倪鑫龚彦晓赵刚祝世宁
申请人 :
南京大学
申请人地址 :
江苏省南京市栖霞区仙林大道163号
代理机构 :
北京弘权知识产权代理有限公司
代理人 :
逯长明
优先权 :
CN202110318747.1
主分类号 :
G01J11/00
IPC分类号 :
G01J11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J11/00
测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性
法律状态
2022-05-17 :
授权
2021-07-13 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 11/00
申请日 : 20210325
2021-06-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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