放射检测系统
授权
摘要
本实用新型提供一种放射检测系统，包括：γ射线探测器，用于探测患者病灶区域的分子影像信息；表面检测件，用于获取患者的三维体表信息；位置与姿态调整机构，位置与姿态调整机构，所述位置与姿态调整机构的末端安装所述γ射线探测器和/或所述表面检测件，并可带动所述γ射线探测器与所述表面检测件运动；以及控制器，与所述γ射线探测器以及所述表面检测件电连接，所述控制器接收所述γ射线探测器的分子影像信息与所述三维体表信息，并融合生成病灶区域的融合信息。位置与姿态调整机构可以带动γ射线探测器可获取任意方向的病灶区域的分子影像信息，提高分子影像信息的图像质量。
基本信息
专利标题 ：
放射检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020375573.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-23
授权号 ：
CN212546972U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
叶廷谢强
申请人 ：
武汉联影智融医疗科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物城B1栋549-1号
代理机构 ：
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵永辉
优先权 ：
CN202020375573.3
主分类号 ：
A61B6/03
IPC分类号 ：
A61B6/03
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的
A61B6/02
依次在不同平面中诊断的仪器；立体放射诊断的
A61B6/03
用电子计算机处理的层析X射线摄影机
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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