一种光学组件性能测试平台

授权

摘要

本实用新型公开了一种光学组件性能测试平台。该平台包括上壳体、底板以及下壳体；上壳体和下壳体密封扣合为一个密封舱体；下壳体内设有至少三条横梁，每根横梁上均设有至少三个柱状凸起，所有柱状凸起构成用于承载底板的支撑体；底板上放置多个光学测试设备；上壳体的前端面设有光通道接口，所述光通道接口通过软管与外部环境试验模拟装置对接，上壳体的后端面为密封面；上壳体的后端侧面设有光学输出窗口。该测试平台测试精度高、结构简单，易于密封，对于一些小型设备或没有地面条件的环境也同样具有适用性。

基本信息

专利标题：

一种光学组件性能测试平台

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020417334.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-27

授权号：

CN211954612U

授权日：

2020-11-17

发明人：

赵燕赛建刚王亚军高斌高博韩磊张海民段炯贾琦孟宁飞赵越

申请人：

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请人地址：

陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司

代理人：

唐沛

优先权：

CN202020417334.X

主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

G01M11/00