光学低通滤波器性能测试装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
本实用新型公开了一种测试装置，旨在提供一种光学低通滤波器性能测试的装置。该装置包括光源，在光源的光路上，依次设置带小孔的挡板、光学成像系统A、转像系统、光学成像系统B和图像传感器，一个计算机系统连接于图像传感器，用于将图像传感器传送的电信号处理成图像数据结果；被测光学低通滤波器摆放位置设于转像系统与光学成像系统B之间的光路上；所述转像系统是一直角棱镜；所述光学成像系统A和光学成像系统B各包括至少一个显微物镜。本实用新型提供的检测光学低通滤波器性能的装置相对于现有技术更加快速、批量、精确。
基本信息
专利标题 ：
光学低通滤波器性能测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620140300.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-11-24
授权号 ：
CN200986650Y
授权日 ：
2007-12-05
发明人 ：
戚巽骏林斌
申请人 ：
浙江大学;星星集团浙江水晶光电科技有限公司
申请人地址 ：
310007浙江省杭州市西湖区浙大路38号
代理机构 ：
杭州中成专利事务所有限公司
代理人 ：
唐银益
优先权 ：
CN200620140300.0
主分类号 ：
G03B43/00
IPC分类号 ：
G03B43/00 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术；电影术；利用了光波以外其他波的类似技术；电记录术；全息摄影术
G03B
摄影、放映或观看用的装置或设备；利用了光波以外其他波的类似技术的装置或设备；以及有关的附件
G03B43/00
摄影设备及其部件测量的正确操作的试验
法律状态
2010-01-20 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2010-01-20 ：
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 2010113
2007-12-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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