比对式检查仪视场基准线与尺刻线图像对正装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种比对式检查仪视场基准线与尺刻线图像对正装置，包括立柱和套装在立柱上的调整块；所述调整块一侧安装有刚性连接板，另一侧安装有CCD连接片；所述刚性连接板和CCD连接片的长度大于调整块的长度，刚性连接板和CCD连接片间的调整块一侧还布置有蝶形旋钮，CCD相机与蝶形旋钮相对设置安装在CCD连接片上。结构简单，调节对正作用由阶梯螺钉实现，通过调节阶梯螺钉的旋出量即可实现CCD相机位姿的调整，操作简单易懂，使用过程如有磨损，可随时更换相关组件，维修方便。
基本信息
专利标题 ：
比对式检查仪视场基准线与尺刻线图像对正装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020443662.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-31
授权号 ：
CN211953898U
授权日 ：
2020-11-17
发明人 ：
于殿泓李佳升李琳张辉
申请人 ：
西安理工大学
申请人地址 ：
陕西省西安市碑林区金花南路5号
代理机构 ：
西安弘理专利事务所
代理人 ：
曾庆喜
优先权 ：
CN202020443662.7
主分类号 ：
G01B3/04
IPC分类号 ：
G01B3/04 G01B21/04 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/00
各组中所列的以使用机械测量方法为其特征的量具
G01B3/02
用于直接读数的带刻度或标记的尺
G01B3/04
刚性的
法律状态
2022-03-11 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01B 3/04
申请日 : 20200331
授权公告日 : 20201117
终止日期 : 20210331
申请日 : 20200331
授权公告日 : 20201117
终止日期 : 20210331
2020-11-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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