探测装置和检测设备

授权

摘要

本公开提供了一种探测装置和检测设备，涉及X射线技术领域，所述探测装置包括至少一个探测模块，每个探测模块包括：主板，内置有第一走线；模数转换芯片，设置在所述主板的第一侧；和第一X射线探测器和第一焊盘，设置在所述主板的第一侧和与所述第一侧相对的第二侧中的一侧，所述第一X射线探测器包括第二焊盘，所述第二焊盘与所述第一焊盘直接引线键合，所述第一焊盘通过所述第一走线与所述模数转换芯片连接。

基本信息

专利标题：

探测装置和检测设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020470388.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-02

授权号：

CN211856921U

授权日：

2020-11-03

发明人：

邹湘张文剑张清军

申请人：

同方威视技术股份有限公司

申请人地址：

北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司

代理人：

张海强

优先权：

CN202020470388.2

主分类号：

G01T1/202

IPC分类号：

G01T1/202 G01T1/208 G01N23/02 G01V5/00