一种用于测距仪进行净高及对角线检测使用基础平台
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于测距仪进行净高及对角线检测使用基础平台,其包括:基础平台本体,上表面用于垂直或水平放置测距仪,且基础平台本体的上表面还设有水平调节可视气泡单元;支架,设置在基础平台本体的下表面第一边角处,且支架的上部设有卡槽;定位斜撑,一端设置在基础平台本体的下表面第二边角处,定位斜撑的另一端卡放在卡槽中;初始位置调节机构,包括滑槽和固定卡,滑槽沿基础平台本体的第一边角和第二边角的连线分布,固定卡滑动地设置在滑槽上,其中,滑槽的两侧设有刻度表。本实用新型有效地提高了测量精度,降低了人员的劳动强度,同时也提高了工作效率,同时,本实用新型还具有结构简单、成本低廉等优点。
基本信息
专利标题 :
一种用于测距仪进行净高及对角线检测使用基础平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020475338.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-03
授权号 :
CN211504140U
授权日 :
2020-09-15
发明人 :
张元涛李景程李刚沈忆莼陈宇杰郭磊雷振坤董照韵黄丽丽
申请人 :
上海建科检验有限公司
申请人地址 :
上海市闵行区申旺路519号2幢A座
代理机构 :
上海伯瑞杰知识产权代理有限公司
代理人 :
王一琦
优先权 :
CN202020475338.3
主分类号 :
G01C15/00
IPC分类号 :
G01C15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C15/00
不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件
法律状态
2020-09-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN211504140U.PDF
PDF下载