反光物体表面用检测装置
授权
摘要

本实用新型提供了一种反光物体表面用检测装置,包括检测平台、设置于检测平台上方的检测组件,所述检测组件包括检测光源及与所述检测光源呈角度设置的检测相机,所述检测光源与所述检测相机的中心线之间的夹角呈90°设置。本实用新型的有益效果体现在:本实用新型通过线性光源和面阵相机的结合,同时,辅助相应的角度设置,可以很好的避免物体光滑表面由于反光带来的采集图像的不便,给反光物体表面的缺陷检测带来了便利,实用性强。

基本信息
专利标题 :
反光物体表面用检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020487382.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-07
授权号 :
CN211955260U
授权日 :
2020-11-17
发明人 :
黄美娟钱方杰
申请人 :
凯吉凯精密电子技术开发(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区通园路208号苏化科技园#23栋105-107室
代理机构 :
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 :
蒋慧妮
优先权 :
CN202020487382.6
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-11-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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