本实用新型所述的一种用于反光物体表面缺陷检测的打光装置，其中的同轴光源灯和两个条形光源灯同时发射到待检测的反光物体表面上，光照均匀，打光效果好；同轴光源灯和两个条形光源灯位置可以调整，从而使得适用性更广，能适用于更多物体的检测。一种用于反光物体表面缺陷检测的打光装置，包括同轴光源灯和两个设置在同轴光源灯下方的条形光源灯，同轴光源灯的两侧对称设置有滑轨，同轴光源灯的两侧均连接有滑板，两个滑板分别滑动设置在两个滑轨上，所述两个滑轨上均固定连接有一个连接块，两个连接块的外侧均设置有一个纵向板，纵向板上设置有纵向滑槽。