表面缺陷检测系统
授权
摘要

本实用新型涉及一种表面缺陷检测系统,属于缺陷检测技术领域。该系统中,至少两个光源和第一图像采集设备位置相对固定;检测台,用于放置待检测表面;至少两个光源,每个光源点亮时射入待检测表面的光束的角度不同;在同步信号发生器控制下,每个光源按照分时控制器脉冲信号依次点亮,第一图像采集设备获取每个光源照射时的待检测表面的图像;处理器将图像进行合成,检测待检测表面的缺陷。在进行物件的表面缺陷时,将待检测表面放置于检测台上,至少两个光源在不同角度分别照射待检测表面,利用时分的方式,减少相机数量,节约检测成本,为镜面提供稳定的、角度全面的、利于暴露细微缺陷的光照方案,解决了现有技术中存在的无法准确检测镜面微缺陷问题。

基本信息
专利标题 :
表面缺陷检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920498968.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-12
授权号 :
CN209764751U
授权日 :
2019-12-10
发明人 :
方勇戚骁亚冯学智姚江华
申请人 :
北京深度奇点科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区知春路甲48号1-4号楼3号楼15层3单元18D-01
代理机构 :
北京细软智谷知识产权代理有限责任公司
代理人 :
韩国强
优先权 :
CN201920498968.X
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2019-12-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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