一种表面缺陷检测方法及系统
实质审查的生效
摘要

本发明涉及表面缺陷检测技术领域,具体公开一种表面缺陷检测方法及系统,所述方法包括:选取图像中任一检测点作为待评估检测点;根据待评估检测点的位置确定与该待评估检测点相关的待测区域;获取所述待测区域内包括所述待评估检测点的所有检测点的实测高度,并计算得到所述待测区域内各所述检测点的平均高度;获取各所述平均高度的实测极差;根据所述实测极差和预设的阈值极差,对所述待评估检测点进行表面缺陷评价。本发明提供一种表面缺陷检测方法及系统,使用实测极差作为判据,有效降低数据运算量,提高检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种表面缺陷检测方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324168A
申请号 :
CN202210004445.1
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
欧高亮潘威汤泉曹玲卢盛林
申请人 :
广东奥普特科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市长安镇锦厦社区河南工业区锦升路8号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
杜嘉伟
优先权 :
CN202210004445.1
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/88  G01N21/95  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20220104
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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