光源装置、表面缺陷检测方法和装置
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摘要

本发明涉及一种光源装置、表面缺陷检测方法和装置。该光源装置包括:底板,设有出光口;球壳,为半球状轮廓,扣于所述底板,并与所述底板合围成半球形腔体;所述球壳上与所述出光口相对的位置设有观察窗;所述球壳的内壁涂有漫反射涂层;光源,设于所述底板上的预定位置,用于提供光照;所述光照被漫反射涂层进行漫反射后自所述出光口向腔体外出射,形成均匀的照射光;反射‑透射镜,设于所述腔体内,并遮挡在出光口和观察窗之间,用于使反射‑透射镜两侧的光线在射向所述反射‑透射镜时,一部分光线穿透、另一部分光线反射。上述光源装置、表面缺陷检测装置及方法可以避免在进行缺陷检测时看到相机的像,且物体表面的划痕和背景也可以被区分。

基本信息
专利标题 :
光源装置、表面缺陷检测方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110501343A
申请号 :
CN201910784360.8
公开(公告)日 :
2019-11-26
申请日 :
2019-08-23
授权号 :
CN110501343B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
王瑾曹锋吕文阁王维语覃海云伍星游佳明高云峰
申请人 :
大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族视觉技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区高新技术园北区新西路9号大族激光大厦
代理机构 :
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
罗平
优先权 :
CN201910784360.8
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-29 :
授权
2019-12-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20190823
2019-11-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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