一种紫外辐照度计低值校准装置

专利权的终止

摘要

本申请涉及一种紫外辐照度计低值校准装置及校准方法，装置包括光学平台、位于光学平台上的三套校准基本单元和一个标准紫外辐照度计；每套校准基本单元包括位于同一直线上依次排列的紫外光源、精密光阑、盲板、滤光片组、衰减片组；三套校准基本单元的紫外光源分别为位于中间位置的第一紫外光源、位于后方的第二紫外光源和位于前方的第三紫外光源；三个非相干的紫外光源发射出的光经精密光阑、滤光片组、衰减片组后汇聚于标准紫外辐照度计接收器中心，被校紫外辐照度计放置与中间位置衰减片组后面，被校紫外辐照度计与衰减片组中心在同一水平线上。本申请校准设备少，无光轨等设备，操作简单、成本低，装置体积小，可携带进行现场计量。

基本信息

专利标题：

一种紫外辐照度计低值校准装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020507164.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-09

授权号：

CN211978111U

授权日：

2020-11-20

发明人：

阚劲松徐迎春刘冲褚楚王酣

申请人：

中国电子技术标准化研究院

申请人地址：

北京市大兴区经济技术开发区同济南路8号

代理机构：

北京世誉鑫诚专利代理有限公司

代理人：

任欣生

优先权：

CN202020507164.4

主分类号：

G01J1/02

IPC分类号：

G01J1/02 G01J1/08 G01J1/04