一种高精度碳硅仪
授权
摘要
本实用新型涉及一种高精度碳硅仪，其特征在于：其包括外壳、主板、显示屏、校准电位器和开关电源；主板和开关电源均设于外壳内部，显示屏嵌设于外壳侧壁，校准电位器的调节端穿出外壳侧壁；主板输入端外接热电偶，显示屏和校准电位器均电连接于主板，开关电源输入端外接交流电，输出端连接于主板电源端；主板包括主控模块、热电偶信号调理模块、信号匹配模块和电压转换模块，热电偶信号调理模块输入端外接热电偶获取热电偶信号，热电偶信号调理模块输出端连接于主控模块输入端，信号匹配模块电连接于显示屏和主控模块。本实用新型检测精度高。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度碳硅仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020521865.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-10
授权号 ：
CN211955279U
授权日 ：
2020-11-17
发明人 ：
吴月华黄雁飞邢文楷
申请人 ：
南京奥科分析仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市高淳区淳溪镇河城大街57号
代理机构 ：
南京天翼专利代理有限责任公司
代理人 ：
朱戈胜
优先权 ：
CN202020521865.3
主分类号 ：
G01N25/00
IPC分类号 ：
G01N25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
法律状态
2020-11-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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