一种改进型数字成像分析仪
授权
摘要
本实用新型提供一种改进型数字成像分析仪，包括底板，防护箱，阻挡块，升降密封防护分析仪结构，插接密封防护记录壳结构，显示屏，紧固壳，散热箱，抽拉箱，紧固板和防护垫，所述的防护箱螺栓连接在底板上表面的中间位置；所述的阻挡块分别螺栓连接在底板上表面的左右两侧；所述的升降密封防护分析仪结构设置在防护垫上表面的左侧；所述的插接密封防护记录壳结构安装在防护箱正表面的下部。本实用新型密封箱，放置架，调节杆，调节块，支撑板，成像仪，连接杆，密封板和手柄的设置，有利于增加成像仪密封防护的效果；安装片，连接绳，插接壳，插接孔，支撑片和置放板的设置，有利于对成像仪的数据进行记录。
基本信息
专利标题 ：
一种改进型数字成像分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020537065.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-13
授权号 ：
CN212540158U
授权日 ：
2021-02-12
发明人 ：
邹黎辉
申请人 ：
天津翔胜通达生物科技有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区(环外)海泰发展二路12号3幢2楼206号
代理机构 ：
广州渣津专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
曾妮
优先权 ：
CN202020537065.0
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-02-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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