一种封头探伤数字成像仪
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摘要

本实用新型公开了一种封头探伤数字成像仪,涉及封头探伤技术领域,为解决现有的封头探伤数字成像仪在使用的过程中的缺乏有效的支撑调节,影响封头探伤精准度的问题。所述底座的上表面设置有固定支架,所述固定支架的上端设置有伸缩式液压缸,所述伸缩式液压缸的上端设置有活塞支撑杆,且活塞支撑杆与伸缩式液压缸为一体结构,所述活塞支撑杆的上端设置有连接护套,所述连接护套的上端设置有承载机壳,所述承载机壳的内部安装有成像仪主体,所述承载机壳的两侧外壁上均设置有握把,且两个握把关于承载机壳的垂直中心线对称分布,所述承载机壳的上表面设置有顶棚。

基本信息
专利标题 :
一种封头探伤数字成像仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922062480.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-26
授权号 :
CN211179523U
授权日 :
2020-08-04
发明人 :
胡烨杨占峰张成
申请人 :
宜兴华威封头有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市宜兴万石镇工业园区宜兴华威封头有限公司
代理机构 :
无锡市天宇知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
蒋何栋
优先权 :
CN201922062480.5
主分类号 :
G01N21/3563
IPC分类号 :
G01N21/3563  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3563
用于分析固体,及其样品制备
法律状态
2020-08-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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