集成块静态测试对比仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成块静态测试对比仪，包括待测及已知芯片、引脚选择开关、万用表接口及万用表，引脚选择开关包括挡位触点及定触点，万用表接口包括红、黑接口，至少有两组，万用表至少有2个，引脚选择开关至少有四个S1、S2、S3及S4，待测芯片的第一引脚分别与S1及S2的第一挡位触点连通，……，待测芯片的第n引脚分别与S1及S2的第n挡位触点连通，S1的定触点与红接口连通，S2的定触点与黑接口连通，万用表的红、黑表笔分别与红、黑接口连接，已知芯片与S3、S4及另一组万用表、万用表接口的连接方式同待测芯片。本实用新型采用上述结构，能够快速的对比芯片的数据值以及对复杂设备的维修进行快速定位、提升维修效率。
基本信息
专利标题 ：
集成块静态测试对比仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020542392.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-14
授权号 ：
CN212514883U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
彭亮杨发开
申请人 ：
成都市美蓝电子仪器有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市武侯区武侯大道顺江段77号1栋11楼28号
代理机构 ：
成都蓉创智汇知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵雷
优先权 ：
CN202020542392.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R15/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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