量化静态延迟时序的测试电路
公开
摘要
本发明涉及一种量化集成电路中特定单元的静态延迟时序的测试电路，包括振荡器、计数器及处理器。振荡器响应振荡使能信号以产生测试信号通过特定单元产生振荡；计数器用以在时间区间内计数所述振荡的次数；处理器用以根据振荡次数量化静态延迟时序。本发明对芯片的静态延迟时序进行具体的量化，并通过对大量芯片测试后进行数据对比，以获得静态延迟时序分布。
基本信息
专利标题 ：
量化静态延迟时序的测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114545192A
申请号 ：
CN202011360052.1
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2020-11-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
上海寒武纪信息科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区同汇路168号B座6层
代理机构 ：
北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
孙新国
优先权 ：
CN202011360052.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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