本发明公开一种上电时序测试装置，包括复杂可编程逻辑器件，其分别连接时钟产生电路及并行单片机。并行单片机分别连接控制装置及显示装置。复杂可编程逻辑器件内含寄存器。还公开利用该测试装置进行测试的方法，包括：通过插槽或插板从主板引出测试信号；复杂可编程逻辑器件采集待测试信号的跳变沿，并以第一个跳变沿为参考点，以时钟产生电路产生的脉冲作为参考时钟计算出其他信号跳变沿与第一个有跳变沿信号的跳变沿的时间差值，然后将该时间差值存在其寄存器中；并行单片机读取寄存器中的时间差值，按控制装置设定的输出条件输出至显示装置，并驱动显示装置按控制装置设定的显示格式显示该时间差值。本发明操作方便，而且产品成本低廉。