计算集成电路的静态延迟时序的方法及设备
公开
摘要
本发明涉及一种利用测试电路计算集成电路的静态延迟时序的方法、计算机可读存储介质及处理器，本发明输入第一电压至测试电路，以获得第一总延迟时间；输入第二电压至所述测试电路，以获得第二总延迟时间；查表以获得逻辑模块在两电压下的第一延迟时序比率；查表以获得接线在两电压下的第二延迟时序比率；基于第一总延迟时间、第二总延迟时间、第一延迟时序比率及第二延迟时序比率，推导逻辑模块及接线的延迟时序。
基本信息
专利标题 ：
计算集成电路的静态延迟时序的方法及设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563682A
申请号 ：
CN202011360073.3
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2020-11-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
上海寒武纪信息科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区同汇路168号B座6层
代理机构 ：
北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李波
优先权 ：
CN202011360073.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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