集成电路静态参数的测量装置

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摘要

本发明涉及一种集成电路静态参数的测量装置，用于对待测集成电路作静态测试，其中包括：模式选择开关；主控单元；电流取样单元；电压取样单元；比较单元；逻辑判断单元；及反馈选择开关。该测量装置在测量时，可以自动根据集成电路的负载，决定以何种输出模式到集成电路。该测量装置工作在电压输出模式时自动对电流值设限，并且，工作在电流输出模式时自动对电压值设限，以稳定工作电压与工作电流的范围。本发明的测量装置根据稳定工作电压与工作电流的范围，在待测集成电路发生故障时，得以自我保护，同时不会危及到待测集成电路。

基本信息

专利标题：

集成电路静态参数的测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101008664A

申请号：

CN200610006191.8

公开（公告）日：

2007-08-01

申请日：

2006-01-25

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

汪秉龙陈中和陈桂标

申请人：

久元电子股份有限公司

申请人地址：

中国台湾新竹市

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司

代理人：

王玉双

优先权：

CN200610006191.8

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28