具有动态分配测试核心的大容量并行测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种具有动态分配测试核心的大容量并行测试系统。所述大容量并行测试系统包括:第一数量的测量卡,提供激励信号给一个或多个被测器件DUT板,并测量来自一个或多个DUT板的反馈信号,每个测量卡具有第二数量的通道,其中测量卡的部分或全部通道被选择性地使能以用作测试核心;第三数量的交换卡,一个或多个交换卡可选择性地连接到测量卡的一个通道,以将激励信号路由到一个或多个DUT板,每个交换卡提供有第四数量的节点,每个节点可连接到DUT板上的一个节点;以及控制器,基于要并行测试的面板上的DUT板的数量及测试一个DUT板所需的节点的数量,动态分配测试核心和交换卡。利用该测试系统,显著地降低了测试时间并增加了吞吐量。
基本信息
专利标题 :
具有动态分配测试核心的大容量并行测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020562925.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-15
授权号 :
CN213337858U
授权日 :
2021-06-01
发明人 :
J·佑A·泰克D·谭
申请人 :
是德科技股份有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京坤瑞律师事务所
代理人 :
封新琴
优先权 :
CN202020562925.6
主分类号 :
G01R31/01
IPC分类号 :
G01R31/01
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试,例如在成批生产中的“过端—不过端”测试;当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2021-06-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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