电容测试排架

授权

摘要

本申请提供了一种电容测试排架。本申请提供的电容测试排架，通过设置金属片、弹簧和金属夹，在支撑块的各侧分别设置容置腔和开腔，且各开腔与支撑块另一侧的容置腔相对应，在各容置腔的底部开设连通支撑块另一侧开腔的通孔，而将各金属片安装在相应容置腔的底面，并在各金属片的下端设置穿过相应通孔的连接片，从而可以将外部导线直接在开腔中与连接片相连，则在使用时，不会顶压到连接片，以保证电连接的稳定性，有效防止连接松动。

基本信息

专利标题：

电容测试排架

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020595777.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-20

授权号：

CN212180853U

授权日：

2020-12-18

发明人：

胡新荣

申请人：

深圳新益昌科技股份有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区福永街道和平路锐明工业园C8栋

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司

代理人：

徐汉华

优先权：

CN202020595777.8

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04