一种金属硅微量元素检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种金属硅微量元素检测装置，包括底座、步进电机、金属硅块、微量元素检测仪、信息储存处理器和电机驱动器，所述底座的外表面被限位块贯穿，且限位块的左侧表面固定连接有储料箱，所述底座和限位块的外表面均被拉杆贯穿，且拉杆的右侧表面固定连接有复位弹簧，并且复位弹簧固定设置在底座的左侧表面。该金属硅微量元素检测装置，当将材料放置在内槽中后，金属硅块会在重力的作用下缓缓下降，滑入到圆周分布的圆环块凹槽中，由于步进电机的每次旋转角度为90°，使得每次金属硅块会落在圆环块凹槽中，被步进电机持续带动旋转到微量元素检测仪下进行检测，达到连续上料检测的效果，提高效率。
基本信息
专利标题 ：
一种金属硅微量元素检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020616037.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-22
授权号 ：
CN212111394U
授权日 ：
2020-12-08
发明人 ：
郑维江戴文伟胡满根林霞
申请人 ：
将乐三晶新材料有限公司
申请人地址 ：
福建省三明市将乐县古镛镇漠仂村58号
代理机构 ：
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹玉清
优先权 ：
CN202020616037.8
主分类号 ：
G01N33/202
IPC分类号 ：
G01N33/202 G01N35/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/202
••其成分
法律状态
2020-12-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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