一种用于高精度ADC测量的检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于高精度ADC测量的检测装置，涉及电子设备领域。本实用新型中：控制器通过温度控制装置/加湿装置对检测平台进行温度/湿度控制，微处理器通过数据采集模块采集检测平台传输的数据信息，控制器通过通信模块与上位机进行信息交互，湿度传感器感应检测平台的湿度数据，温度传感器感应检测平台的温度数据，ADC性能检测仪上设有待测接口，ADC性能检测仪用于检测待测ADC芯片的性能参数。本实用新型通过设置检测平台对ADC芯片进行检测，并通过设置温度控制模块和加湿模块对检测平台进行温度/湿度控制，从而检测出温度湿度因素对ADC芯片性能的影响，并通过设置通信模块和上位机进行交互，方便工作人员远程查看数据及控制。
基本信息
专利标题 ：
一种用于高精度ADC测量的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020624670.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-23
授权号 ：
CN212012610U
授权日 ：
2020-11-24
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
杭州宇称电子技术有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区六和路368号一幢(北)四楼B4053室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020624670.1
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10
法律状态
2020-11-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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