一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针
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摘要
本实用新型揭示了一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针，该探针结构为柱对称结构，由内向外依次包括Si介质光纤、SiO2等厚介质膜及贵金属膜，三者末端均为半球状，其中Si介质光纤和SiO2等厚介质膜末端共球心，贵金属膜末端球心在Si介质光纤和SiO2等厚介质膜球心之下h处，贵金属膜厚度沿SiO2等厚介质膜表面向探针尖端逐渐减小至贵金属膜的最薄厚度tm。该探针突破了衍射极限，实现了纳米尺寸的高强度光学聚焦，最大限度减小了外界环境和污染对纳米聚焦特性的影响，且简易结构与强机械硬度易于生产制造及使用，在近场光学成像，纳米光学传感，增强等离激元与物质相互作用等诸多方面有着广泛的应用前景。
基本信息
专利标题 ：
一种金属层尖端楔形化的柱型等离激元纳米聚焦探针
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020630754.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-23
授权号 ：
CN212379267U
授权日 ：
2021-01-19
发明人 ：
许吉布瑾李康马璐周毅张思成刘宁陆云清
申请人 ：
南京邮电大学
申请人地址 ：
江苏省南京市鼓楼区新模范马路66号
代理机构 ：
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 ：
范丹丹
优先权 ：
CN202020630754.6
主分类号 ：
G01N21/21
IPC分类号 ：
G01N21/21
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
2021-01-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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