基于速度影像的纳米颗粒表面等离激元场分布探测方法
授权
摘要

本发明属于微纳光学领域,具体公开一种基于速度影像的纳米颗粒表面等离激元场分布探测方法,包括:将线偏振的飞秒激光通过第一λ/2波片以矫准其偏振方向,经第二λ/2波片后通过透镜聚焦与纳米颗粒束流作用,使纳米颗粒电离出离子;控制离子经加速聚焦后进入微通道探测器以生成倍增电子信号,并使该信号在荧光屏上呈现影像以获得离子动量信息;以固定步长角度旋转第二λ/2波片,获得在激光偏振平面内各不同角度上对应的离子动量信息,对所有离子动量信息层析重构处理,得到发射离子的三维动量分布并对其做以中心为原点的径向积分,得到纳米颗粒表面电离率空间分布作为等离激元场分布。本发明采用纳米颗粒在电离后产生的离子作为探测对象,测量过程简单。

基本信息
专利标题 :
基于速度影像的纳米颗粒表面等离激元场分布探测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112179893A
申请号 :
CN202011045775.2
公开(公告)日 :
2021-01-05
申请日 :
2020-09-29
授权号 :
CN112179893B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
张庆斌符祥龙韩旭黄湘曹伟陆培祥
申请人 :
华中科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
代理机构 :
华中科技大学专利中心
代理人 :
尹丽媛
优先权 :
CN202011045775.2
主分类号 :
G01N21/66
IPC分类号 :
G01N21/66  G01N21/21  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/66
电激发的,例如电发光
法律状态
2022-04-22 :
授权
2021-01-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/66
申请日 : 20200929
2021-01-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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