一种光学仪器检查支架
授权
摘要

本实用新型公开了一种光学仪器检查支架,包括主体和定位滑轨,所述主体的下端设置有定位卡槽,且定位卡槽的内部设置有限位板,所述限位板的内侧设置有桌面,且限位板的右侧设置有定位弹簧,所述主体的上表面左侧固定有定位丝杆一,且定位丝杆一的上端设置有固定杆,所述固定杆的上端设置有调节转轴,且调节转轴的外侧设置有固定夹板。通过设置的把手可以方便对装置进行携带,并且设置的定位丝杆一能够根据需求调节固定杆的高度,从而可以方便对镜片进行检查,通过设置的固定夹板能够对镜片进行固定,可以避免使用时镜片固定不便而影响装置的正常使用,并且设置的防滑橡胶垫可以固定的更加紧密,防止镜片出现偏移。

基本信息
专利标题 :
一种光学仪器检查支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020641330.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-25
授权号 :
CN211626876U
授权日 :
2020-10-02
发明人 :
刘永富
申请人 :
刘永富
申请人地址 :
黑龙江省鹤岗市东山区沿河南小区A14号楼一单元101室
代理机构 :
哈尔滨龙科专利代理有限公司
代理人 :
高媛
优先权 :
CN202020641330.X
主分类号 :
G01M11/00
IPC分类号 :
G01M11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2020-10-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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