本实用新型涉及密封圈技术领域，且公开了一种太赫兹的密封圈密封性能检测装置，包括机箱、检测箱和热水箱，所述检测箱和热水箱分别位于机箱顶部的左右两侧，所述机箱的内侧设置有驱动结构，所述机箱和检测箱之间连通，所述机箱和检测箱的内侧设置有连接结构，所述检测箱内腔的两侧均设置有折型管；本实用新型通过热水箱、驱动结构、连接结构、折型管、环形架、太赫兹检测仪、固定环、限位杆、缓冲弹簧和供液结构的设置，使得该装置通过太赫兹技术对接合处进行全面检测，且方便对密封圈进行更换，解决了目前的检测装置存在一定的不足之处，其不方便实施操作，增大了工作人员的劳动强度，且无法快速对待测试密封圈进行更换的问题。