多点阵列激光测速装置和系统
授权
摘要
本申请实施例提供的多点阵列激光测速装置和系统，涉及激光测速技术领域。所述多点阵列激光测速装置包括：底板；支杆，该支杆与所述底板固定连接；容纳组件，该容纳组件具有容纳空间，且与所述支杆固定连接；光学天线，所述光学天线固定设置于所述容纳空间；其中，所述光学天线通过发射激光信号并接收反射回来的激光信号对风速进行测量。通过上述设置，可以提高空气流场的测试效率，以及减少测试过程中对流场的扰动，达到提高测试精度的效果。
基本信息
专利标题 ：
多点阵列激光测速装置和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020715544.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-30
授权号 ：
CN212060313U
授权日 ：
2020-12-01
发明人 ：
唐瑒楼英周宏禹吴燕雄周翔辉
申请人 ：
成都英鑫光电科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）天辰路88号
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
徐彦圣
优先权 ：
CN202020715544.7
主分类号 ：
G01P5/26
IPC分类号 ：
G01P5/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01P
线速度或角速度、加速度、减速度或冲击的测量；运动的存在或不存在的指示；运动的方向的指示、传播时间或传播方向来测量固体物体的方向或速度入G01S；核辐射速度的测量入G01T）
G01P5/00
测量流体的速度，例如空气流；测量物体相对于流体的速度，例如船、航行器的速度
G01P5/26
通过测量流动中的流体对检测用光波性质的直接影响
法律状态
2020-12-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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