基于结构光的深度测量装置及拍摄设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种基于结构光的深度测量装置及拍摄设备,所述装置包括:光源,用于发射测量所需的平行光束;半透半反镜,用于对平行光束进行反射以产生第一反射光束,和对第一反射光束照射目标物体后产生的第二反射光束进行透射以产生透射光束;共形准直器,用于对第一反射光束和第二反射光束进行准直;散束器,用于对准直后的第一反射光束进行散束;图像传感器,接收透射光束,并根据透射光束确定目标物体的被测深度,其中,共形准直器的多个透光通道中的每个透光通道的孔径尺寸均大于平行光束的相干距离。本实用新型避免了在测量时出现衍射和保证了指向性,提高了深度测量时的抗干扰能力。

基本信息
专利标题 :
基于结构光的深度测量装置及拍摄设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020719409.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-06
授权号 :
CN212301888U
授权日 :
2021-01-05
发明人 :
于亚冰王志玲姚若亚朱华谭磊
申请人 :
圣邦微电子(北京)股份有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区西三环北路87号13层3-1301
代理机构 :
北京成创同维知识产权代理有限公司
代理人 :
蔡纯
优先权 :
CN202020719409.X
主分类号 :
G01S17/08
IPC分类号 :
G01S17/08  G01S7/481  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统,例如,激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2021-01-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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