晶体管白噪声测试系统

授权

摘要

本申请实施例提供一种晶体管白噪声测试系统，涉及半导体器件测试技术领域。该系统包括：控制单元、白噪声测试电路、待测试晶体管及白噪声采集与分析单元。控制单元控制待测试晶体管运动至白噪声测试电路的晶体管测试位点。白噪声测试电路包括晶体管测试位点、电压源、放大电路及白噪声采集端，白噪声测试电路用于将待测试晶体产生的白噪声进行放大输出给白噪声采集与分析单元，白噪声采集与分析单元对采集的白噪声进行分析。上述测试系统通过电压源为晶体管提供的反向偏置电压，利用该反向偏置电压击穿晶体管的PN结所产生的白噪声作为晶体管自身的白噪声源信号，对晶体管的白噪声进行测试分析，为晶体管工艺理论研发提供参考。

基本信息

专利标题：

晶体管白噪声测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020752334.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-09

授权号：

CN212159992U

授权日：

2020-12-15

发明人：

姜兰举李强

申请人：

吉林华微电子股份有限公司

申请人地址：

吉林省吉林市高新区深圳街99号

代理机构：

成都极刻智慧知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

唐维虎

优先权：

CN202020752334.5

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26