一种集成电路电磁发射多角度测试夹具
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路电磁发射多角度测试夹具,其包括固定于安装座上的壳体,壳体的两端固定有同轴连接头,壳体的顶面设置有矩形窗口,所述安装座的顶部固定有两个位于壳体内的竖向的导向杆,且导向杆上滑动套装有导向环,两个导向环之间固定有横向的夹具座,所述夹具座的顶面设置有圆形的安装槽,且安装槽内转动配合有圆形夹具盘,所述圆形夹具盘的底部固定有与夹具座转动连接的第一连接杆,第一连接杆的下端固定有旋钮。本实用新型不仅能够用于对电路板进行测试,且还能根据需要调节角度,可同时满足多个角度的测试要求,从而能适应不同的检测标准,不仅操作方便,且也减少了测试结果与实际应用的偏差。
基本信息
专利标题 :
一种集成电路电磁发射多角度测试夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020754625.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-09
授权号 :
CN213302274U
授权日 :
2021-05-28
发明人 :
张娜娜
申请人 :
苏州华碧微科检测技术有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区港田路99号
代理机构 :
天津铂茂专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈晓蕾
优先权 :
CN202020754625.8
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/28 G01R29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-05-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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