自动点按测试设备
授权
摘要
本实用新型公开一种自动点按测试设备，包括测试底座、用于放置待测显示板的测试治具和点按机构，所述测试治具设置在所述测试底座上，所述测试治具上设置有与所述显示板匹配的型腔；所述点按机构设置在所述底座上，所述点按机构包括安装板、设置在所述安装板上的驱动组件和与所述驱动组件的输出执行端连接的压板，所述压板可在所述驱动组件的驱动下下压所述待测显示板上的功能按键。本实用新型实施例通过驱动组件驱动压板朝向测试治具移动，以实现对于待测显示板上若干功能按键的同时按压，并在规定时间内完成规定次数的按压，在按压完成后，再通过外接的数字万用表检测其电流电压变化，以供工作人员根据此变化判断显示板的正常与否。
基本信息
专利标题 ：
自动点按测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020802072.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-14
授权号 ：
CN212341339U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
刘小雄林海亮皮振辉田森孙鸿帆
申请人 ：
深圳市拓普泰克技术股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业区3号二层至五层在宝安区石岩街道松白路创维数字大厦403A室设有办公场所
代理机构 ：
深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
隆毅
优先权 ：
CN202020802072.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R15/12
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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