自动开合装置及测试设备
授权
摘要

本实用新型涉及一种自动开合装置及测试设备。自动开合装置包括安装座、开合门及驱动机构。安装座具有取放料口。开合门包括左开合门及右开合门,左开合门及右开合门可移动地设于安装座。左开合门靠近右开合门的一侧设有第一凸台部,右开合门靠近左开合门的一侧对应设有与第一凸台部抵触配合的第二凸台部。驱动机构用于驱动左开合门及右开合门向相反的方向移动,以遮蔽或打开取放料口。驱动机构带动左开合门及右开合门靠近,左开合门的第一凸台部与右开合门的第二凸台部抵触配合,使开合门的密封效果更好,从而减少外界环境对测试空间的露点影响,提供较为稳定的测试环境,提高测试结果的可靠性。

基本信息
专利标题 :
自动开合装置及测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021612574.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-06
授权号 :
CN212845663U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
胡冲鲍军其刘治震戴雅萍张磊
申请人 :
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区聚才路410号
代理机构 :
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 :
储照良
优先权 :
CN202021612574.1
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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