偏光片检测装置
授权
摘要

本申请属于各项异性扩散膜参数检测技术领域,尤其涉及一种偏光片检测装置。该偏光片检测装置中,转盘转动安装于底座,转盘上设有可夹持样品的夹持组件,夹持组件可跟随转盘转动。配置有积分球与光检测器,分别进行收集与检测光通量。照明准直机构产生平行入射光,平行入射光经过夹持组件的检测位处的样品,经过样品出来的光线进入积分球的入光口,由积分球的光探测口对应的光检测器来检测光通量,实现样品的参数检测。调整转盘相对底座的转角,转盘与底座通过角度刻度与标准刻度线的配合,可准确获知转盘相对于底座的转角,这样可按照设定的角度较快地调节平行入射光相对样品的入射角度,配合积分球与光检测器来检测样品在不同入射角度时的参数。

基本信息
专利标题 :
偏光片检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020804220.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-14
授权号 :
CN212379279U
授权日 :
2021-01-19
发明人 :
钟铁涛孙琴霍丙忠李祖华
申请人 :
深圳市三利谱光电科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区公明办事处楼村社区第二工业区同富一路5号第1-9栋
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
袁哲
优先权 :
CN202020804220.0
主分类号 :
G01N21/49
IPC分类号 :
G01N21/49  G01N21/59  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射,即漫反射
G01N21/49
固体或流体中的散射
法律状态
2021-01-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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