一种偏光片的缺陷检测装置
授权
摘要
本申请涉及一种偏光片的缺陷检测装置，其用于检测偏光片的缺陷，所述装置包括第一光源和偏振相机，第一光源用于发光到所述偏光片上；偏振相机与所述第一光源配合设置，其用于采集经过所述第一光源光照后的偏光片图像，以检测出偏光片的均匀性缺陷。本申请提供的偏光片的缺陷检测装置，不仅采集到的偏光片图像不会受到高亮部位的影响，均匀性缺陷检测的准确度更高，而且自动化程度非常高，使得偏光片的均匀性缺陷检测效率也较高。
基本信息
专利标题 ：
一种偏光片的缺陷检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021955550.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-09
授权号 ：
CN211740572U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
王雷洪志坤张胜森欧昌东郑增强
申请人 ：
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 ：
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
孟欢
优先权 ：
CN202021955550.6
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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