偏光片辉点缺陷光学检测结构

授权

摘要

本实用新型涉及一种偏光片辉点缺陷光学检测结构，包括第一成像工位和第二成像工位，所述的第一成像工位与第二成像工位分别连接工控机；所述的第一成像工位上设置有偏光镜，检测时，偏光镜旋转，待检测的产品在第一成像工位测得真实缺陷和伪缺陷后在第二成像工位区分辨别伪缺陷从而测得真实缺陷。本实用新型利用偏光片滤光的特性，再结合其他工位的成像排除其他非真实缺陷的干扰，达到检测出偏光片内部的辉点的目的；使用自动化检测方案，可以提高检测效率，减少成本；将直交工位和同轴工位相结合有利于降低缺陷过检。

基本信息

专利标题：

偏光片辉点缺陷光学检测结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022112828.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-24

授权号：

CN212845084U

授权日：

2021-03-30

发明人：

王郑王岩松和江镇梁俊龙任浩楠

申请人：

征图新视（江苏）科技股份有限公司

申请人地址：

江苏省常州市武进经济开发区西太湖锦华路258-6号

代理机构：

常州品益专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

王涵江

优先权：

CN202022112828.X

主分类号：

G01N21/896

IPC分类号：

G01N21/896