塞孔缺陷自动光学检测装置
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摘要

本实用新型公开了一种塞孔缺陷自动光学检测装置,包括机架、吸附平台、位移装置、成像装置以及光源模组;所述位移装置固定安装于所述机架,所述吸附平台、所述成像装置以及所述光源模组都设置在所述位移装置上,所述吸附平台用于安放待检测的PCB板,所述位移装置用于使所述成像装置、所述光源模组与所述吸附平台做相对位移,所述成像装置用于扫描所述PCB板的塞孔并且成像;所述光源模组包括至少两个照明光源,其中至少一个所述照明光源的光照方向与所述吸附平台的夹角为0°~60°,至少一个所述照明光源的光照方向与所述吸附平台的夹角为60°~85°。本实用新型提出的塞孔缺陷自动光学检测装置解决了现有PCB板树脂塞孔检测效率与检测精度低的问题。

基本信息
专利标题 :
塞孔缺陷自动光学检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020133772.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-19
授权号 :
CN211652597U
授权日 :
2020-10-09
发明人 :
周翔郑如寿李小明李秀懂
申请人 :
深圳市鹰眼在线电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区横岗街道联合路13-1号
代理机构 :
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 :
杨小鑫
优先权 :
CN202020133772.3
主分类号 :
G01N21/956
IPC分类号 :
G01N21/956  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2020-10-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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