塞孔检测装置
授权
摘要

本实用新型公开一种塞孔检测装置,包括:机台;位移机构,所述位移机构固定安装于所述机台;吸附平台,所述吸附平台可滑动地设于所述位移机构,用于放置待检测的电路板;成像机构,所述成像机构可移动地设于所述位移机构,并位于所述吸附平台的上方,用于扫描电路板上的塞孔并成像;3D扫描系统,所述3D扫描系统安装于所述成像机构,用于获取所述成像机构采集到的塞孔图像并经算法分析后的塞孔缺陷的3D信息。本实用新型提出的塞孔检测装置旨在解决现有电路板塞孔检测效率与检测精度低下的问题。

基本信息
专利标题 :
塞孔检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020271863.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-06
授权号 :
CN212180652U
授权日 :
2020-12-18
发明人 :
周翔郑如寿李小明赵国建李秀懂
申请人 :
深圳市鹰眼在线电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区横岗街道联合路13-1号
代理机构 :
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 :
张婷
优先权 :
CN202020271863.3
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-12-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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