一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置,包括底板,所述底板顶部的两侧分别固定连接有第一竖板和第二竖板,所述底板的顶部且位于第一竖板和第二竖板之间固定连接有第一滑轨,所述第一竖板的一侧通过轴承转动连接有双向螺纹杆,并且双向螺纹杆远离第一竖板的一端固定连接有把手,双向螺纹杆外表面的两侧均螺纹连接有第一滑块,两个第一滑块的底部均与第一滑轨的外表面滑动连接,两个第一滑块的顶部均固定连接有横板,横板的顶部固定连接有夹紧装置。有益效果:可以对偏光片进行快速方便的夹紧固定,这样可以很好的防止偏光片在缺陷检测过程中发生移动给检测造成不便,更好的保证了偏光片缺陷检测工作的进行。

基本信息
专利标题 :
一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921112686.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-16
授权号 :
CN210376104U
授权日 :
2020-04-21
发明人 :
吴华昌
申请人 :
深圳市华昌宇电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡九围村金洪工业园B栋3楼
代理机构 :
深圳迈辽知识产权代理有限公司
代理人 :
赖耀华
优先权 :
CN201921112686.8
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/95  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-04-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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