大尺寸光学零件通用光洁度检验装置
授权
摘要
本申请涉及一种大尺寸光学零件通用光洁度检验装置，包括有并排设置的两个支撑杆、并排设置的两个联结杆、用于支撑支撑杆和联结杆的立柱腿，各个支撑杆的两端分别连接在两个联结杆上、并可沿联结杆的延伸方向位移，两个支撑杆上相对设置有用于供光学零件的端部嵌入的支撑槽，且支撑槽的延伸方向与支撑杆的延伸方向一致。如此设置，可对大尺寸光学零件起到支撑作用，无需检验人员手持光学零件进行检验，节约人员成本，增加检验的准确度，并满足光洁度检验要求；可根据光学零件实际尺寸对装置进行宽度调整，可适应不同尺寸的零件的检验需求，节约设计不同工装的时间、成本。
基本信息
专利标题 ：
大尺寸光学零件通用光洁度检验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020806043.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-14
授权号 ：
CN212180645U
授权日 ：
2020-12-18
发明人 ：
杨子玄王振兴赵紫微
申请人 ：
北京创思工贸有限公司
申请人地址 ：
北京市通州区广源东街2号院1、2号楼
代理机构 ：
北京细软智谷知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
张雄
优先权 ：
CN202020806043.X
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01 G01B5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-12-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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