一种用于光学晶体的角度检验装置

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摘要

本实用新型公开了一种用于光学晶体的角度检验装置，其中包括定位工装，所述定位工装用于固定待测光学晶体；靶盘，所述靶盘与所述定位工装间隔设置，所述靶盘朝向待测光学晶体反射面的表面上设置有多个标记圈，多个所述标记圈同心设置；光源，所述光源设置在所述定位工装及靶盘之间并用于朝向待测光学晶体反射面发射光线。从而直接读取该待测光学晶体的端面倾斜角度的范围，是否在满足合格标准，本方案设备的结构简单，测量的角度值不需要通过计算而直接读取，提高检测效率，适用于批量化检测。

基本信息

专利标题：

一种用于光学晶体的角度检验装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021577012.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-31

授权号：

CN212620612U

授权日：

2021-02-26

发明人：

钟进庞寿彬郁建科

申请人：

东莞市翔通光电技术有限公司;深圳市翔通光电技术有限公司

申请人地址：

广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区科技九路4号

代理机构：

深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

徐凯凯

优先权：

CN202021577012.8

主分类号：

G01B11/26

IPC分类号：

G01B11/26