一种用于检测的电子设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于检测的电子设备,一种用于检测的电子设备,包括机壳,所述机壳的内壁底部固定有固定块,且固定块的两侧均转动有转动杆,所述转动杆上螺纹连接有移动块,且移动块的表面转动有转动块,所述转动块的顶部贯穿机壳且延伸至机壳的外部,所述转动块的一侧固定有接触块,且转动块上设置有限位槽,且连接块上通过轴块转动连接有伸缩杆,所述伸缩杆的一端固定有探针,所述限位槽上转动有连接块,本实用新型涉及电子设备技术领域。该用于检测的电子设备,解决了传统的电子检测设备结构复杂,不易携带,不能根据电子元件进行调节,导致无法适配待检测设备的问题。

基本信息
专利标题 :
一种用于检测的电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020822374.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-18
授权号 :
CN212540570U
授权日 :
2021-02-12
发明人 :
梅琼珍
申请人 :
重庆科创职业学院
申请人地址 :
重庆市永川区昌州大道西段28号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020822374.2
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-02-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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