光学量测系统
授权
摘要
一种光学量测系统，包括一下座、一光学量测装置、一上座与一光源产生装置，下座供放置一待测样品，所述下座顶部具有一透光孔可使光线进入；所述光学量测装置设置于所述下座内部且与所述透光孔相通，用以测量所述待测样品的光学参数；所述上座设置于所述下座上；所述光源产生装置设置于所述上座，所述光源产生装置具有一出光口，所述出光口对应所述透光孔，且所述光源产生装置受操控而可沿一弧线方向移动，使所述出光口的一出光轴线改变入射至所述透光孔的一入射角，借此可测量待测样品在不同入射角的光学参数。
基本信息
专利标题 ：
光学量测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020822827.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-18
授权号 ：
CN212459405U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
郝祖德傅荔暄郑莹钦赖杰宏
申请人 ：
五铃光学股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹县竹北市台元街26号6楼之11
代理机构 ：
北京伟思知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
聂宁乐
优先权 ：
CN202020822827.1
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G01N21/55 G01N21/59 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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